大幅提升LED晶片與封裝測試效率的良方

因應(yīng)全球LED市場發(fā)展，晶片與封裝測試大躍進(jìn)：以大量同步測試取代單一手動測試

LED照明產(chǎn)品是人類生活之必需品，包含日常燈具、螢?zāi)弧④囉谜彰髋c建築景觀照明，而智慧調(diào)光燈控與健康人因照明，更是現(xiàn)今燈具發(fā)展趨勢，除此之外，全球各地政府積極提倡節(jié)能LED照明以及智能照明解決方案，響應(yīng)智慧城市、綠能和永續(xù)發(fā)展，再再反映了LED市場的熱度。

根據(jù) TrendForce《2021全球LED照明市場報(bào)告- 照明級封裝與照明產(chǎn)品趨勢（1H21）》顯示，全球LED照明市場比之前預(yù)估更為樂觀，2021年全球LED照明市場規(guī)模有機(jī)會成長5.1%、2025年達(dá)到443億美金。

LED照明市場無疑帶動關(guān)聯(lián)的上、中、下游產(chǎn)業(yè)發(fā)展，其中，在生產(chǎn)製程及檢測中，晶片與封裝測試為不可忽視的重要環(huán)節(jié)。在各個(gè)製程的最終階段，會透過測試電源，進(jìn)行升溫、調(diào)光、老化測試，確認(rèn)其安全性與精準(zhǔn)度。傳統(tǒng)測試方法僅針對單個(gè)或數(shù)個(gè)包裝，手動調(diào)整電流進(jìn)行調(diào)光測試，費(fèi)時(shí)又費(fèi)力，如今使用可程式直流電源，可一次同時(shí)測試多個(gè)LED晶片，提升測試速率與產(chǎn)能。

實(shí)測LED產(chǎn)品老化測試

我們使用ADG-L可程式直流電源，進(jìn)行LED產(chǎn)品老化測試。透過遠(yuǎn)端電腦，以Ethernet通訊方式，連結(jié)恆溫恆濕測試機(jī)內(nèi)串并接好的LED 晶片模組，提供每個(gè)晶片穩(wěn)定的電壓及電流。

藉由 ADG-L 專屬的遠(yuǎn)端操作軟體，設(shè)置編程程序，輸入需求的電壓與電流值，使其重複循環(huán)、自動跳停，並在電腦上同步觀察 LED 晶片的測試結(jié)果。

其他LED燈源測試應(yīng)用

ADG-L系列可針對不同的待測物進(jìn)行測試，除了上述的LED產(chǎn)品老化測試，業(yè)界也經(jīng)常使用此機(jī)模擬電源輸出擾動，進(jìn)行LED燈源的漸層測試與閃頻實(shí)驗(yàn)，確認(rèn)LED燈是否產(chǎn)生降低視覺功能的炫光，達(dá)到檢測LED色溫、亮度和調(diào)光效果。實(shí)際測試狀況，請參考下方ADG-L系列介紹影片。（延伸閱讀：如何使用可程式直流源測試LED燈源）

ADG-L系列具優(yōu)秀的電源規(guī)格特性，適用於高電壓或大電流之測試模擬

ADG-L系列是一款可程式高功率密度直流電源，相較於他廠，能在同等級輸出容量中，提供較大的電流，15kW單機(jī)具0~135 A、0~1000 V的電流及電壓輸出，併機(jī)後最大可達(dá)75 kW、675 A，且內(nèi)建PFC主動功率因數(shù)校正，輸出功因可高達(dá)0.99。此外，有寬量程輸出選擇，以及定電壓、定電流與定功率模式，提供客戶多元、完善的選擇。多應(yīng)用於太陽能、電動車、鋰電池、元器件類斷路器、接觸器、保險(xiǎn)絲以及實(shí)驗(yàn)室、認(rèn)證單位等，適合需求高電壓或大電流的測試，提供客戶在產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)初期的各種模擬，以及產(chǎn)品老化之生產(chǎn)檢測。

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